有許（xǔ）多（duō）因素會影響（xiǎng）老化房老化測試係統的整體性能，下麵（miàn）是一些主（zhǔ）要方麵：
1．老化房計算機主機與（yǔ）測試係統之間的通信。由於功能測試程（chéng）序非常長，因此測試硬件的設計應盡可能提高速度。一些係統使用較慢的（de）串行通信，如RS-232C或者類似協（xié）議，而另一些係統則使用雙向並行總線係統，大大提高了數據（jù）流通率。
2．根據時間動態改變測試參（cān）數的能（néng）力，如電壓與頻率。如果老化測試係統能夠即時改（gǎi）變參數，則可以加快通常屬於產品壽（shòu）命後期（qī）階段故障的出現。對於某些器件（jiàn）結（jié）構，直流電壓偏（piān）置及動態信號的功率變動都可加速（sù）出現晚期壽命故障（zhàng）。
3．係統提供（gòng）參（cān）數測試的能力。如果老化測試係統能進行一些速（sù）度測試，那麽還可得到其他一些相關失效數據以進行可靠性研究（jiū），這也有助於精簡老化後測試工藝。
4．對高速測試儀（yí）程序的下載及（jí）轉換能力。有些老化測試係統有自己（jǐ）的測試語（yǔ）言，對（duì）需要做（zuò）100%節點切換的被測（cè）器件不用再開發（fā）程序（xù）；而有些係統能夠把高速測試儀程序直接轉換到老化應用上（shàng），可以（yǐ）在老化過程中進行更準確的測試。
5．計算機接口與（yǔ）數據采集方式。有些老化測試係統采用分區方法，一個數（shù）據采集主機控製多（duō）個老（lǎo）化板，另外有些係統則（zé）是單板式采集（jí）。從實際情況來看，單板式方法可以采集（jí）到更多數據，而且可能還具有更大的測試產量。
6．首（shǒu）先是老化房測試方法的選擇。理想的情況是器件在老化工藝上花費的時間最（zuì）少（shǎo），這樣可以提高總體產量。惡劣的電性能（néng）條件（jiàn）有助於故障加速出現，因此能快速進行反複測試的（de）係統可減少總體老化時間。每單位時間裏內部節點切換次數越多，器件受到的考（kǎo）驗就越大，故障也就出現得更快。
7．老化房老化板互連性、PCB設計以及（jí）偏置電路的複雜性。老化測試係統可能被有些人稱為高（gāo）速（sù）測試，但是，如果機械連接或老化板本身（shēn）特性會削弱信號質量，那麽測試速度（dù）將會（huì）是一個（gè）問題。如像過多機電性連接（jiē）會（huì）增大整個係統的（de）總電容和電感、老化板（bǎn）設計不良會產生噪聲和串擾、而（ér）很差的引腳驅動器設計則會使快速信號沿所（suǒ）需的驅動電流（liú）大小受到限製等等，這些都僅是（shì）一部分影（yǐng）響速度的瓶頸（jǐng），另外由於負載過（guò）大（dà）並存在阻抗（kàng）、電（diàn）路偏置以及保護元件值的選擇等也會使老（lǎo）化的性能受到影響。